茎秆生长传感器/茎秆膨胀传感器/茎秆变化传感器ESM-JGSC产品介绍：
ESM-JGSC茎秆生长传感器，由卡尺型测量夹具将植株茎秆生长过程中直径的变化转变为游尺的位移变化，游尺带动由电场屏蔽释放式位移微位移传感器的屏蔽电极片移动，使电容量产生与位移量线性关系的变化，由于电场屏蔽释放原理Zui大限度地减少了电容测量中分布电容和初始电容，大大提高了电容检测的分辩率。
茎秆生长传感器/茎秆膨胀传感器/茎秆变化传感器ESM-JGSC产品特点：
•多种规格传感器，适合测量直径2～150mm大小的植物·
•实现了微米数量级位移的高精度检测·
•适合测量各种植物茎杆，且对植物无伤害
茎秆生长传感器/茎秆膨胀传感器/茎秆变化传感器ESM-JGSC技术参数：
范围：0-20mm,0-50mm（其它量程可选）
寿命：>100X106次
线性精度：0.3%
阻值误差：±10%
重复精度：0.01mm
解析度：无限解析
Zui大操作速度：3m/s
温漂系数：1.5ppm/℃
Zui大容许电压：10VDC/2-5KΩ DC5V/1KΩ
工作温度：-20℃～+120℃
湿度：≤90%
输出信号：RS485或电阻信号（5V供电） 4-20MA信号输出（12-24VDC供电） ---接线方式：棕线24VDC 蓝线GND 黑线4-20MA信号正
