主要特点：
1、灵敏度远高于其它同类拉曼谱仪，模块化设计，波长可任意选择，配置灵活， 升级容易。
2、所有传动部件均采用光栅尺闭环控制，仪器精度和重复性比其它同类光谱仪 提高了一个数量级。
3、可一次连续扫描大范围的拉曼光谱（专利），无需接谱，无需使用低分辨率 光栅。
4、受专利保护的Zui新的显微共焦系统，可连续调节共焦深度，并大大提高了仪 器的光通量和稳定性。
5、受专利保护的拉曼或荧光信号一次直接成像，迅速获得材料的空间分布。
原子力显微镜：
主要特点：
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM 应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以世界上应用Zui广泛的 AFM 大样品平台为基础，齐集 Dimension 系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
Dimension® Icon™的图像分辨率，与Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于地位，Zui新的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新，配置温度补偿位置传感器，实现了Z 轴亚埃级和XY 轴埃级的低噪音水平，将其应用在90 微米扫描范围的大样品台体系上，效果甚至优于高分辨小样品台AFM 的开环噪音水平。全新设计的XYZ 闭环扫描头，在较高的扫描速度工作时，也不会损坏图像质量，实现了更大的数据采集输出量。
拉曼-原子力显微镜联用系统：
您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。
联用系统优势：
原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。
inVia和SPM/AFM可作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。
可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息。
选择的系统：
雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有极大的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：
· Bruker NanoSurfaces
· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par
